Módulo 2 – Aplicações da Difração de raios X de Pó (21-25 outubro 2013)

Cursos
"Determinação de estrutura usando Difração de Raios X de Pó"
Prof Robert Dinnibier (Max Planck Institute for Solid State Research in Stuttgart, Alemanha)

Parte teórica: O curso irá abordar aspectos fundamentais e aplicados de solução de estrutura usando dados de difração de pó; determinação do grupo espacial, e da estrutura inicial (diferentes métodos e abordagem); parâmetros de refinamento de estrutura (Método de Rietveld); Validação de estrutura cristalina.
Parte prática: exemplos e tutoriais com softwares

"Determinação de tamanho cristalino e microdeformação"
Prof. Paolo Scardi (Department of Civil, Environmental & Mechanical Engineering, University of Trento, Italy )

Resumo dos métodos de difração aplicado à análise da microestrutura dos materiais. Uma vez que o tamanho do cristalito e a presença de defeitos de rede têm uma influência decisiva sobre as propriedades de muitos materiais, informação sobre esta microestrutura é de importância vital para o desenvolvimento e avaliação de materiais para aplicações práticas. A técnica de difração de raios-X é sem dúvida a mais poderosa e, geralmente, não-destrutiva disponível são. Modelos de alargamento de linha de difração para determinar o tamanho de cristalito e deformação em escala atômica, devido, por exemplo, a deslocamentos, e métodos para a análise de tensão residual (macroescala).
Aspectos Teóricos
Análise de Perfil de Linha
A análise do padrão de difração completo
Modelagem de padrão de difração de pó: Teoria e Aplicações
Análise completa do perfil de linha de padrões de difração de raios-X na Investigação de materiais nanocristalinos
Modelagem de distribuição de tamanho de Cristalitos em refinamentos Rietveld
 Prática: vários exemplos e tutoriais com softwares

Conferência
"Aplicações da Radiação Síncrotron na Difração de Raios X de Pó"
Prof Eduardo Granado (Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW) da Unicamp, Brasil)